- 龙8官网手机登录入口
-
产品中心
- 电容器高温试验设备
- 电容器老化（通用型）
- 电容器老化（专用型）
- 高温反偏 试验系统
- 高温反偏（通用型）
- 高温反偏（专用型）
- 高温高湿（H3TRB）
- 高加速寿命试验（HAST）
- 分立器件 试验设备
- 综合老化（多功能）
- 间歇寿命试验（IOL）
- 整流二极管
- 稳压二极管
- 大功率（水冷/风冷）
- 电源模块 三端稳压器
- 电源模块（能量消耗型）
- 电源模块（能量反馈型）
- 三端稳压器
- IGBT模块 试验设备
- 功率循环(Power Cycling)
- 高温反偏/栅偏（HTRB / HTGB）
- 激光二极管光通讯模块
- 光通讯器件/模块
- 电磁继电器固态继电器
- 继电器高温老化系统
- 微波器件 老化试验
- 微波二极管
- 微波功率器件直流老化
- 微波功率器件射频老化
- 微波组件射频老化
- 晶体振荡器 电阻器
- 电阻器/石英振荡器
- 三温自动化 测试系统
- 高低温测试系统
- 668A (高温阻断系统)
- 测试仪
- 高可靠程控 试验电源
- 迪派大功率直流电源
-
解决方案
- 半导体分立器件可靠性试验
- MOSFET可靠性试验
- 三极管可靠性解决方案
- 电子产品为什么要老化
- IGBT行业可靠性解决方案
- IGBT器件可靠性解决方案
- IPM器件可靠性试验方案
- IPM器件
- 自动老化线
- 自动老化线
- IC芯片可靠性试验解决方案
- 设计验证
- 第三方实验室整体筹建解决方案
- 第三方实验室整体筹建解决方案
- 老炼行业数字化智能物联平台
- 高可靠智能物联平台
- 试验服务
- 典型客户
- 关于中安
- 人才招聘
